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| No se trata de verificar que el funcionamiento "normal" del circuito es el deseado sino de comprobar que todos y cada uno de los transistores han sido fabricados y conectados correctamente. Que el diseño es correcto queda garantizado, en la misma etapa de diseño, por la simulación; con el test de lo que se trata es de garantizar, para cada uno de los circuitos integrados, que tal diseño ha sido fabricado correctamente, es decir, que cada uno de los circuitos físicos obtenidos (chips) corresponde exactamente al diseño. | No se trata de verificar que el funcionamiento "normal" del circuito es el deseado sino de comprobar que todos y cada uno de los transistores han sido fabricados y conectados correctamente. Que el diseño es correcto queda garantizado, en la misma etapa de diseño, por la simulación; con el test de lo que se trata es de garantizar, para cada uno de los circuitos integrados, que tal diseño ha sido fabricado correctamente, es decir, que cada uno de los circuitos físicos obtenidos (chips) corresponde exactamente al diseño. | ||
| + | Autor: Rubén Clavero | ||
/var/www/html/lefispedia/data/pages/es/microelectronica.txt · Última modificación: 2020/01/08 18:24 (editor externo)
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