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es:microelectronica

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es:microelectronica [2011/05/28 17:09]
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es:microelectronica [2011/05/28 17:16]
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 No se trata de verificar que el funcionamiento "​normal"​ del circuito es el deseado sino de comprobar que todos y cada uno de los transistores han sido fabricados y conectados correctamente. Que el diseño es correcto queda garantizado,​ en la misma etapa de diseño, por la simulación;​ con el test de lo que se trata es de garantizar, para cada uno de los circuitos integrados, que tal diseño ha sido fabricado correctamente,​ es decir, que cada uno de los circuitos físicos obtenidos (chips) corresponde exactamente al diseño. No se trata de verificar que el funcionamiento "​normal"​ del circuito es el deseado sino de comprobar que todos y cada uno de los transistores han sido fabricados y conectados correctamente. Que el diseño es correcto queda garantizado,​ en la misma etapa de diseño, por la simulación;​ con el test de lo que se trata es de garantizar, para cada uno de los circuitos integrados, que tal diseño ha sido fabricado correctamente,​ es decir, que cada uno de los circuitos físicos obtenidos (chips) corresponde exactamente al diseño.
  
 +Autor: Rubén Clavero
  
/var/www/html/lefispedia/data/pages/es/microelectronica.txt · Última modificación: 2020/01/08 18:24 (editor externo)